更換新的內(nèi)存條后系統(tǒng)運行穩(wěn)定性能下降，并常出現(xiàn)死機(jī)、程序意外關(guān)閉等情況是什么原因造成的呢？

因為故障發(fā)生在更換內(nèi)存條后，所以應(yīng)該重點考慮內(nèi)存的故障。將內(nèi)存條安裝到正常工作的電腦上進(jìn)行檢測。發(fā)現(xiàn)其能夠穩(wěn)定運行，由此排除內(nèi)存本身的故障可能性了。進(jìn)入BIOS設(shè)置中，檢查內(nèi)存的各個相關(guān)設(shè)置，發(fā)現(xiàn)將BIOS中的CL參數(shù)由“2”改為“3”后，上述現(xiàn)象消失。

CL就是CAS Latency，指的是內(nèi)存存取數(shù)據(jù)所要的延遲時間，也就是內(nèi)存接到CPU指令后的反應(yīng)速度。CL一般的參數(shù)值是2或3，數(shù)值越小，代表反應(yīng)所用的時間越短。如果內(nèi)存性能不佳，設(shè)置為“2”時會導(dǎo)致系統(tǒng)不穩(wěn)定。本文就是為新?lián)Q的內(nèi)存條性能參數(shù)低于原來的那條，從而導(dǎo)致其無法在原來的環(huán)境中穩(wěn)定工作的例子。

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